芯片测试需要哪些知识_芯片测试需要哪些电路知识

湖南进芯申请 MCU 芯片功能测试集成复用系统及方法专利,实现外部...需要返回的数据筛选打包,构建接口实现引脚与系统的连接。最终实现一个可接收控制指令,可根据指令将接口上的信号线相对应的复用连接,或返回相对应控制寄存器的值,实现外部接口的互相连接与复用,以此实现被测芯片端口与信号监测或者激励信号端口连接来达到芯片测试的目的。

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湖南进芯申请MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理专利,优化流...金融界2024年9月10日消息,天眼查知识产权信息显示,湖南进芯电子科技有限公司申请一项名为“MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理系统及方法“公开号CN202411089206.6,申请日期为2024年8月。专利摘要显示,本发明涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种MCU芯片ADC模等我继续说。

上海赢朔取得一项专利,完成 QFN 芯片的高温测试,减少操作工序提高...金融界2024 年9 月8 日消息,天眼查知识产权信息显示,上海赢朔电子科技股份有限公司取得一项名为“一种QFN 芯片高温测试自动出入料机构“授权公告号CN111900100B,申请日期为2020 年9 月。专利摘要显示,本发明公开了一种QFN 芯片高温测试自动出入料机构,包括底座以及小发猫。

胜达克半导体(上海)取得SOC芯片并行测试切换方法专利,通过时钟域...金融界2024年9月8日消息,天眼查知识产权信息显示,胜达克半导体科技(上海)股份有限公司取得一项名为“一种应用于自动测试机的SOC 芯片并行测试切换方法“授权公告号CN112924850B,申请日期为2021 年1 月。专利摘要显示,本发明涉及半导体测试技术领域,具体地说是一种应是什么。

龙芯中科申请芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质专利,大大...金融界2024 年9 月6 日消息,天眼查知识产权信息显示,龙芯中科技术股份有限公司申请一项名为“芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质“公开号CN202410289302.9,申请日期为2024 年3 月。专利摘要显示,本发明实施例提供了一种芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储等会说。

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长川科技申请芯片测试参数的调试方法等专利,解决测试系统控制工具...金融界2024 年9 月4 日消息,天眼查知识产权信息显示,杭州长川科技股份有限公司申请一项名为“芯片测试参数的调试方法、芯片测试系统及方法“公开号CN202410688544.5,申请日期为2024 年5 月。专利摘要显示,本申请涉及一种芯片测试参数的调试方法、芯片测试系统及方法还有呢?

...能够在测试管脚不易外露或接触不良时仍得以测试芯片是否能正确运作金融界2024 年9 月5 日消息,天眼查知识产权信息显示,上海兆芯集成电路股份有限公司取得一项名为“扫描链控制电路“授权公告号CN112345924B ,申请日期为2020 年10 月。专利摘要显示,本发明提供一种扫描链控制电路,包括:通过测试电路板上的接口进行芯片测试而不需要通过还有呢?

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北京智芯微申请安全芯片的算法测试专利,解决现有安全芯片算法测试...金融界2024年9月3日消息,天眼查知识产权信息显示,北京智芯微电子科技有限公司,内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司申请一项名为“安全芯片的算法测试方法、装置和系统“公开号CN202410687188.5,申请日期为2024年5月。专利摘要显示,本发明提供一种安全芯片的算后面会介绍。

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眸芯科技(上海)取得基于FPGA的面向WGL的芯片测试系统及应用专利,...金融界2024 年9 月1 日消息,天眼查知识产权信息显示,眸芯科技(上海)有限公司取得一项名为“基于FPGA的面向WGL的芯片测试系统及应用“授权公告号CN114325336B,申请日期为2021 年12 月。专利摘要显示,本发明公开了基于FPGA的面向WGL的芯片测试系统及应用,涉及芯片是什么。

华虹半导体(无锡)申请晶圆测试缺陷芯片标记专利,提升芯片缺陷标记效率金融界2024 年9 月3 日消息,天眼查知识产权信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司申请一项名为“晶圆测试缺陷芯片标记方法、装置和存储介质“公开号CN202410635920.4,申请日期为2024 年5 月。专利摘要显示,本申请涉及半导体集成电路制造技术领域,具体涉及一种晶圆测试缺后面会介绍。

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