芯片测试工作流程图_芯片测试工作原理

胜达克半导体(上海)取得SOC芯片并行测试切换方法专利,通过时钟域...股份有限公司取得一项名为“一种应用于自动测试机的SOC 芯片并行测试切换方法“授权公告号CN112924850B,申请日期为2021 年1 月。专利摘要显示,本发明涉及半导体测试技术领域,具体地说是一种应用于自动测试机SOC 芯片并行测试切换方法。具体流程如下:S1:在测试载具说完了。

联芸科技申请芯片验证相关专利,使程序运行覆盖更多测试需求金融界2024 年8 月20 日消息,天眼查知识产权信息显示,联芸科技(杭州)股份有限公司申请一项名为“一种芯片验证方法、装置、设备及存储好了吧! 采用本发明实施例的技术方案,使得验证场景中的程序运行过程覆盖真实使用场景中包括程序运行顺序灵活变化、程序中断在内的各种测试需求好了吧!

...针对芯片测试服务定价因素包括测试设备配置、测试工艺流程等,积极...金融界12月11日消息,利扬芯片披露投资者关系活动记录表显示,公司针对芯片测试服务定价因素的回复包括:测试设备配置、测试工艺流程、环境因素以及技术难度等。在汽车电子领域,公司自2018年起涉及MCU、多媒体主控芯片、传感器等芯片的测试,积极建立针对高可靠性芯片的三小发猫。

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利扬芯片取得指纹芯片测试专利,实现指纹芯片测试流程的简化根据所述SNR信噪比分析指纹芯片上相邻电容感应点之间的相互电感应程度。本发明解决指纹芯片测试环境和使用环境差异大的问题,通过在电容感应图像上测算SNR信噪比来判断相邻电容感应点之间的相互电感应程度,以此实现指纹芯片测试流程的简化。本文源自金融界

长鑫存储申请存储芯片测试技术专利,优化芯片测试流程提高测试效率金融界2024年1月30日消息,据国家知识产权局公告,长鑫存储技术有限公司申请一项名为“存储芯片的测试方法、装置、设备及存储介质“公开号CN117476087A,申请日期为2022年7月。专利摘要显示,本公开实施例提供一种存储芯片的测试方法、装置、设备及存储介质。其中,所述方后面会介绍。

芯原股份申请集成电路芯片测试专利,提高芯片测试程序开发的整体速度并将中转电路板模块连接至测试设备进行测试。本发明在集成电路芯片和测试板生产阶段,就可以根据具体设计完成部分的测试程序的调试,节省了调试时间,提高了芯片测试程序开发的整体速度。并且在增加尽可能少硬件的前提下,缓解工程矛盾以及满足市场需求。并且还具有通用型,可后面会介绍。

同兴达:昆山芯片全流程封装测试项目一期预计明年二季度全部设备到位金融界11月8日消息,同兴达披露投资者关系活动记录表显示,公司昆山芯片金凸块(GoldBump)全流程封装测试项目计划分三期完工,预计其中一期满产后能实现产能2 万片,二期满产后能实现累计4 万片,三期视具体市场情况投入。一期项目根据客户的实际需求开展业务,包括LCD及OLE好了吧!

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同兴达:公司子公司昆山芯片金凸块全流程封装测试项目启动量产同兴达公告,2023年10月18日,昆山同兴达芯片金凸块全流程封装测试项目量产仪式在昆山隆重举行,下游客户包括奕力科技股份有限公司等国际知名IC设计大厂莅临参加,标志公司先进封装测试项目大规模量产化与市场化开启,进一步深化了与上游公司的合作模式。本文源自金融界AI电报

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同兴达(002845.SZ)子公司昆山芯片金凸块全流程封装测试项目启动...智通财经APP讯,同兴达(002845.SZ)公告,2023年10月18日,公司子公司昆山同兴达芯片封测技术有限责任公司(“昆山同兴达”)芯片金凸块全流程封装测试项目量产仪式在昆山隆重举行,下游客户包括奕力科技股份有限公司等国际知名IC设计大厂莅临参加,标志公司先进封装测试项目大规好了吧!

...芯片的测试电路及测试装置”专利,快速保护电路并确定过流故障程序段本发明公开了一种控制芯片的测试电路及测试装置,涉及芯片测试领域,比较模块通过比较采样模块的采样结果和阈值调整模块当前输出的过流阈值,判断待测的控制芯片在当前的控制程序阶段是否出现工作电流的过流情况,并在控制芯片出现过流的情况下通过控制开关模块关断来切断供好了吧!

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