芯片测试机_芯片测试机厂家

华兴源创申请芯片测试机的校准方法及校准装置专利,使得校准后的...金融界2024年6月18日消息,天眼查知识产权信息显示,苏州华兴源创科技股份有限公司申请一项名为“芯片测试机的校准方法及校准装置“公开号CN202410378505.5,申请日期为2024年3月。专利摘要显示,本申请涉及一种芯片测试机的校准方法及校准装置。通过对驱动模块在多个预还有呢?

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华兴源创申请芯片测试机时钟同步方法专利,能够提高时钟同步处理的...金融界2024年4月10日消息,据国家知识产权局公告,苏州华兴源创科技股份有限公司申请一项名为“芯片测试机时钟同步方法、装置、电子设备和存储介质“公开号CN117850540A,申请日期为2024年1月。专利摘要显示,本申请涉及芯片测试技术领域,特别是涉及一种芯片测试机时钟同是什么。

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长川科技申请芯片测试机专利,实现了当检测到无限重复微指令时,持续...金融界2024年2月20日消息,据国家知识产权局公告,杭州长川科技股份有限公司申请一项名为“芯片测试机“公开号CN117572196A,申请日期为2023年9月。专利摘要显示,本申请涉及一种芯片测试机。包括:所述上位机驱动响应所述应用编程接口下发的第一指令,生成触发启动命令;所述小发猫。

长川科技取得散热系统、芯片测试机专利,能够更精确有效地控制制冷...金融界2023年12月21日消息,据国家知识产权局公告,杭州长川科技股份有限公司取得一项名为“散热系统、芯片测试机“授权公告号CN220210826U,申请日期为2023年3月。专利摘要显示,本实用新型涉及散热系统、芯片测试机。该散热系统包括:通过换热器实现热耦合的第一冷却回等我继续说。

长川科技获得实用新型专利授权:“芯片测试机及芯片测试系统”证券之星消息,根据企查查数据显示长川科技(300604)新获得一项实用新型专利授权,专利名为“芯片测试机及芯片测试系统”,专利申请号为CN202321460623.8,授权日为2024年3月15日。专利摘要:本申请涉及半导体自动化测试领域,特别是涉及一种芯片测试机及芯片测试系统,芯片测试说完了。

长川科技获得外观设计专利授权:“显示屏幕面板的芯片测试机校准...证券之星消息,根据企查查数据显示长川科技(300604)新获得一项外观设计专利授权,专利名为“显示屏幕面板的芯片测试机校准校验工具图形用户界面”,专利申请号为CN202330310882.1,授权日为2024年2月6日。专利摘要:1.本外观设计产品的名称:显示屏幕面板的芯片测试机校准校验还有呢?

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长川科技获得实用新型专利授权:“多时钟并行装置及芯片测试机”证券之星消息,根据企查查数据显示长川科技(300604)新获得一项实用新型专利授权,专利名为“多时钟并行装置及芯片测试机”,专利申请号为CN202321537020.3,授权日为2024年3月1日。专利摘要:本申请公开了一种多时钟并行装置及芯片测试机,属于芯片测试技术领域,其中,多时钟并后面会介绍。

利扬芯片取得测试机辅助校验装置专利,有利于提升测试机的测试准确...金融界2023年11月17日消息,据国家知识产权局公告,广东利扬芯片测试股份有限公司取得一项名为“测试机辅助校验装置”,公开号CN220040734U,专利申请日期为2023年11月。专利摘要显示,本实用新型公开了一种测试机辅助校验装置,测试机设置有多个测试座,测试座包括测试端和校等我继续说。

联动科技:QT8400测试机能否应用于测试车规级芯片未明确表示金融界7月31日消息,有投资者在互动平台向联动科技提问:请问公司的QT8400测试机,能否应用于测试车规级芯片?谢谢!公司回答表示:类似问题已回复,请参见有关回复内容。本文源自金融界AI电报

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...同步测试信号生成系统及同步测试信号生成方法专利,解决了测试机...第一控制单元将测试指令发送至第二控制单元,第二控制单元将测试指令转换为对应的测试向量并发送至第一控制单元,第一控制单元将测试向量转换为对应的同步测试信号输出,该系统通过两个控制单元分别承担生成测试向量和生成测试信号的功能,解决了测试机数字板卡的FPGA芯片资好了吧!

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