芯片测试流片_芯片测量好坏视频

矽电股份取得探针模组及 LED 芯片测试系统专利,避免压力传感器量程...金融界2024 年9 月18 日消息,天眼查知识产权信息显示,矽电半导体设备(深圳)股份有限公司取得一项名为“探针模组及LED 芯片测试系统“授权公告号CN221726105U,申请日期为2023 年12 月。专利摘要显示,本实用新型公开了一种探针模组及LED 芯片测试系统,探针模组包括承等我继续说。

...进芯申请MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理专利,优化流片...本发明涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理系统及方法,包括信号源、DAC模块、被测MCU芯片和是什么。 实现ADC不同通道的测试。本发明优化了流片阶段MCU片上ADC模块测试程序,缩短了测试时长。通过上位机对电源的精准控制,可获取不同电是什么。

集创北方申请芯片测试系统及芯片测试方法专利,极大地提高了芯片...金融界2024 年9 月18 日消息,天眼查知识产权信息显示,北京集创北方科技股份有限公司申请一项名为“芯片测试系统及芯片测试方法“公开号CN202410737683.2,申请日期为2024 年6 月。专利摘要显示,本发明公开了一种芯片测试系统及芯片测试方法。根据本发明实施例的芯片测后面会介绍。

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上海赢朔取得芯片高压测试相关专利,实现芯片高压测试精准高效金融界2024 年9 月17 日消息,天眼查知识产权信息显示,上海赢朔电子科技股份有限公司取得一项名为“一种芯片高压测试方法、系统及存储介质“授权公告号CN118191567B,申请日期为2024 年5 月。专利摘要显示,本申请涉及芯片测试领域,公开芯片高压测试方法、系统及存储介等我继续说。

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厦门优迅芯片申请“一种ROSA自动测试系统及ROSA测试方法”专利,...金融界2024年9月17日消息,天眼查知识产权信息显示,厦门优迅芯片股份有限公司申请一项名为“一种ROSA自动测试系统及ROSA测试方法“公开号CN202410827427.2,申请日期为2024年6月。专利摘要显示,本发明公开了一种ROSA自动测试系统及ROSA测试方法,该ROSA自动测试等会说。

珠海妙存科技取得 EMMC 芯片老化测试相关专利,能降低老化测试过程...金融界2024 年9 月15 日消息,天眼查知识产权信息显示,珠海妙存科技有限公司取得一项名为“EMMC 芯片老化测试电路及其控制方法、测试系统“授权公告号CN118430634B,申请日期为2024 年7 月。专利摘要显示,本申请公开一种EMMC 芯片老化测试电路及其控制方法、测试系还有呢?

谷歌 Tensor G4 芯片测试:能效表现更出色,性能快于前代IT之家9 月14 日消息,消息源Golden Reviewer 今天(9 月14 日)在X 平台发布推文,测试谷歌Pixel 9 系列手机所搭载的Tensor G4 芯片,在3DMark Wild Life Extreme 中表现略快于Tensor G3,且不及早已问世的骁龙8 Gen 1。IT之家注:3DMark Wild Life Extreme 重点对CPU 和GPU 进行是什么。

...的模块化扫描数据网络专利,能够实现芯片上的扫描测试数据的高效传输金融界2024 年9 月13 日消息,天眼查知识产权信息显示,高通股份有限公司申请一项名为“用于高速扫描数据传输的模块化扫描数据网络“公开号CN202380019693.6,申请日期为2023 年2 月。专利摘要显示,芯片上的扫描测试特征可包括具有核心流式扫描集线器(CSH)的流式扫描网小发猫。

湖南进芯申请 MCU 芯片功能测试集成复用系统及方法专利,实现外部...返回的数据筛选打包,构建接口实现引脚与系统的连接。最终实现一个可接收控制指令,可根据指令将接口上的信号线相对应的复用连接,或返回相对应控制寄存器的值,实现外部接口的互相连接与复用,以此实现被测芯片端口与信号监测或者激励信号端口连接来达到芯片测试的目的。

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...的微型测试平台、测试方法及存储介质专利,实现对数模混合芯片的...以触发待测产品输出与对应的测试条件对应的测试信号;信号采集模块,用于采集待测产品输出的测试信号,并将测试信号输出至信号分析处理模块;信号分析处理模块用于根据测试信号进行分析处理并生成分析结果。实现对数模混合芯片的智能化系统验证、调试分析及小批量测试,该平台等会说。

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